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為力學(xué)實(shí)驗(yàn)室儀器而生
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為力學(xué)實(shí)驗(yàn)室儀器而生
2021-08-25 0
北京某985大學(xué)購(gòu)買剪切散斑干涉儀，用于無(wú)損檢測(cè)。測(cè)試復(fù)合材料的缺陷及微變形。
剪切電子散斑干涉術(shù)是一種測(cè)量離面位移導(dǎo)數(shù)場(chǎng)的激光干涉測(cè)量新技術(shù)。它除了電子散斑干涉術(shù)(ESPI，Electronic Speckle Pattern Interferometry)的許多優(yōu)點(diǎn)外，還有光路簡(jiǎn)單，對(duì)測(cè)量環(huán)境要求低等特點(diǎn)。由于剪切電子散斑干涉是測(cè)量位移導(dǎo)數(shù)，因此，在自動(dòng)消除剛體位移的同時(shí)對(duì)于缺陷受載的應(yīng)變集中十分靈敏，因此被廣泛地應(yīng)用于無(wú)損檢測(cè)(NDT, nondestructive testing)領(lǐng)域。該儀器使用大功率綠色半導(dǎo)體激光器作光源，具有電子散斑條紋實(shí)時(shí)處理軟件，操作方便，便于攜帶，可用于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。采用相移技術(shù)分析條紋，可獲得離面位移導(dǎo)數(shù)場(chǎng)的全場(chǎng)數(shù)據(jù)。
